钼针在测试中孤立金刚石粒子的应用

钼针可以用作纳米金刚石颗粒的测试工具。

随着小尺寸材料使用率的增加，我们需要更好地了解这些小尺寸材料的性能。

这种技术取得了孤立的金刚石粒子在尖端的针头。针是理想的一批样品几何学表征技术,包括透射电镜、场发射、场发射显微镜,所有这些都在从事这项研究中,随着电子能量损失谱、扫描电镜和x射线能量色散谱。

一个孤立的金刚石粒子(约3纳米尺寸)沉积在尖钼针。场发射测量来自孤立的金刚石颗粒和相比于裸露针和共用针头钼衬了一层较厚的层金刚石颗粒。透射电子显微镜和电子能量损失谱是用来调查形态和钻石的成分。。钻石要求是纯品(免费的非金刚石碳)并且它的尺寸准确确定。从孤立的金刚石颗粒场发射行为观察，称为异常厚度的影响，被描述为一个大小取决于材料的性能（带隙的增加，由于量子效应）和大小依赖于静电作用的结果。

附加沉积金刚石进行了实验，使用钼基材。钼针都能作为场发射阴极，允许多个微安的电流从没有提示失败的钼提取。此外，纳米金刚石颗粒沉积数额不等的特点，类似的实验使用钼。