テスト中のダイヤモンド粒子のモリブデン針分離アプリケーション
モリブデン針は、テストツールナノダイヤモンドとして使用することができます。
材料使用量の小さいサイズの増加に伴い、私たちはより良い材料の小さなサイズの性能を理解する必要があります。
この技術は、針、単離されたダイヤモンド粒子の先端で作られています。針は、電子エネルギー損失分光法、走査型電子顕微鏡及びエネルギー分散型X線分光法を用いて、研究に従事している全ては、透過型電子顕微鏡法、電界放出、電界放出顕微鏡を含む試料の幾何学的特性評価技術の数に理想的です。
単離されたダイヤモンド粒子（サイズは約3 nm）はモリブデン針の先端に堆積されます。電界放出孤立したダイヤモンド粒子からの測定値とダイヤモンド粒子の針と針共有モリブデンライニング層の厚さの層を露出するために比較。透過電子顕微鏡と電子エネルギー損失分光法は、ダイヤモンドの形態および組成を調査するために使用されます。 。ダイヤモンドの要件は、純粋な（無料の非ダイヤモンド炭素）であり、その寸法を正確に測定しました。大きさは、材料の性質に依存する異常厚さと呼ばれる電界放出挙動の観察から単離されたダイヤモンド粒子が、記載されている（バンドギャップによる量子効果に増加）およびサイズは、静電相互作用の結果に依存します。
追加のダイヤモンド堆積実験はモリブデン基板を用いて行きました。モリブデンピンは、モリブデンにメッセージを表示せずに失敗から抽出された現在の複数のマイクロアンペアを可能にする、電界放出陰極として機能することができます。また、ダイヤモンドナノ粒子はモリブデンを用い量特性、同様の実験を変えて堆積されます。
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