시험에서 다이아몬드 입자의 몰리브덴 바늘 절연 응용

몰리브덴 바늘 테스트 툴 나노 다이아몬드로서 사용될 수있다.

재료 사용량의 작은 크기의 증가에 따라, 우리는 더 나은 재료의 작은 크기의 성능을 이해할 필요가있다.

이 기술은 니들 절연 다이아몬드 입자의 끝에서 만들었다. 니들은 전자 에너지 손실 분광법, 주사 전자 현미경과 에너지 분산 형 X 선 분광법으로 연구에 참여하고있다 모두 투과 전자 현미경, 전계 방출 형, 전계 방출 현미경 포함한 샘플 형상 특성화 기법의 수에 적합하다.

몰리브덴 바늘

절연 다이아몬드 입자 (크기 3 내지)은 몰리브덴 니들 팁에 침착. 전계 방출 절연 다이아몬드 입자의 측정 및 다이아몬드 입자의 바늘과 바늘 공유 몰리브덴 라이닝 층을 두껍게 베어 비교 하였다. 투과 전자 현미경 및 전자 에너지 손실 분광법은 다이아몬드의 형태와 구성을 조사하기 위해 사용된다. . 다이아몬드 요구 순수 (유리 비 다이아몬드 탄소)이고, 그 크기가 정확하게 결정된다. 크기는 재료의 특성에 따라 같이 변형 두께 불리는 전계 방출 거동을 관찰 절연 다이아몬드 입자가 설명된다 (밴드 갭 때문에, 양자 효과를 증가) 및 크기 정전 상호 작용의 결과에 의존한다.

추가 다이아몬드 증착 실험은 몰리브덴 기판을 이용하여 수행 하였다. 몰리브덴 핀 몰리브덴 메시지를 표시하지 않고 실패로부터 추출 된 현재의 여러 마이크로 암페어 수 있도록, 전계 방출 캐소드 역할을 할 수 있습니다. 또한, 다양한 증착 다이아몬드 나노 입자는 몰리브덴을 이용하여 유사한 실험을 특징 달한다.

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